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根據(jù)sem圖像分析原理（根據(jù)sem圖像分析原理的方法）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-21 22:54:21 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 84

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本文目錄:

1、xrd sem tem原理是
2、掃描電鏡圖片如何分析
3、FIB和SEM的優(yōu)劣分析從成像原理,成像效果,成本,通用性等多方面解答一下.
4、掃描電子顯微鏡的工作原理

根據(jù)sem圖像分析原理（根據(jù)sem圖像分析原理的方法）

一、xrd sem tem原理是

XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以測定晶格參數(shù),可以測定結(jié)構(gòu)方向、含量，可以測定材料的內(nèi)應(yīng)力，材料晶體的大小等等。一般主要是用來分析合金里面的相成分和含量。

樣品制備：

通常定量分析的樣品細(xì)度應(yīng)在1微米左右，即應(yīng)過320目篩。

SEM是利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。主要是利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。

二、掃描電鏡圖片如何分析

第一、掃描電鏡照片是灰度圖像，分為二次電子像和背散射電子像，主要用于表面微觀形貌觀察或者表面元素分布觀察。

一般二次電子像主要反映樣品表面微觀形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情況需要對比分析。

背散射電子像主要反映樣品表面元素分布情況，越亮的區(qū)域，原子序數(shù)越高。

第二、看表面形貌，電子成像，亮的區(qū)域高，暗的區(qū)域低。非常薄的薄膜，背散射電子會(huì)造成假像。導(dǎo)電性差時(shí)，電子積聚也會(huì)造成假像。

三、FIB和SEM的優(yōu)劣分析從成像原理,成像效果,成本,通用性等多方面解答一下.

FIB帶有SEM功能；FIB另外的功能就是微加工.

SEM是電子束成像原理.

FIB中帶有電子束成像,也可以離子束成像（一般不用,對樣品表面形貌損傷太大）.

如果您只觀察形貌的話,用SEM即可,FIB的電子束成像方面和SEM都一模一樣.

四、掃描電子顯微鏡的工作原理

掃描電子顯微鏡的工作原理：

掃描電子顯微鏡的制造依據(jù)是電子與物質(zhì)的相互作用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細(xì)的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。

當(dāng)一束極細(xì)的高能入射電子轟擊掃描樣品表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時(shí)可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動(dòng)（聲子)、電子振蕩（等離子體）。

根據(jù)sem圖像分析原理（根據(jù)sem圖像分析原理的方法）