可用于sem分析的是（可用于sem分析的是）

大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于可用于sem分析的是的問(wèn)題，以下是小編對(duì)此問(wèn)題的歸納整理，讓我們一起來(lái)看看吧。

開(kāi)始之前先推薦一個(gè)非常厲害的Ai人工智能工具，一鍵生成原創(chuàng)文章、方案、文案、工作計(jì)劃、工作報(bào)告、論文、代碼、作文、做題和對(duì)話答疑等等

只需要輸入關(guān)鍵詞，就能返回你想要的內(nèi)容，越精準(zhǔn)，寫(xiě)出的就越詳細(xì)，有微信小程序端、在線網(wǎng)頁(yè)版、PC客戶端

官網(wǎng)：https://ai.de1919.com。

創(chuàng)意嶺作為行業(yè)內(nèi)優(yōu)秀的企業(yè)，服務(wù)客戶遍布全球各地，如需了解SEO相關(guān)業(yè)務(wù)請(qǐng)撥打電話175-8598-2043，或添加微信：1454722008

本文目錄:

• 1、哪位大神可以清楚的告訴我SEM，EDS，XRD的區(qū)別以及各自的應(yīng)用

• 2、sem指的是什么呢?

• 3、SEM分析法是什么

• 4、sem什么意思

一、哪位大神可以清楚的告訴我SEM，EDS，XRD的區(qū)別以及各自的應(yīng)用

SEM，EDS，XRD的區(qū)別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個(gè)用于微區(qū)分析成分的配件——能譜儀。能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來(lái)對(duì)材料微區(qū)成分元素種類(lèi)與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用于物相分析的檢測(cè)設(shè)備。

掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM，圖2-17、18、19）于20世紀(jì)60年 代問(wèn)世，用來(lái)觀察標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。其工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級(jí)電子，次級(jí)電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說(shuō)與樣 品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級(jí)電子由探測(cè)體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?hào)，再經(jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)來(lái)控制熒光屏上電子束的強(qiáng)度，顯示出與電子 束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。為了使標(biāo)本表面發(fā)射出次級(jí)電子，標(biāo)本在固定、脫水后，要噴涂上一層重金屬微粒，重金屬在電子束 的轟擊下發(fā)出次級(jí)電子信號(hào)。 目前掃描電鏡的分辨力為6~10nm，人眼能夠區(qū)別熒光屏上兩個(gè)相距0.2mm的光點(diǎn)，則掃描電鏡的最大有效放大倍率為0.2mm/10nm=20000X。

EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特征波長(zhǎng)，特征波長(zhǎng)的大小則取決于能級(jí)躍遷過(guò)程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點(diǎn)來(lái)進(jìn)行成分分析的。使用范圍：

1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無(wú)機(jī)或有機(jī)固體材料分析；

2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分的鑒定；

3、可對(duì)固體材料的表面涂層、鍍層進(jìn)行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測(cè)；

4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領(lǐng)域；

5、進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點(diǎn)分布分析。

X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學(xué)、材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。

二、sem指的是什么呢?

解釋?zhuān)?/strong>

abbr. 掃描式電子顯微鏡（scanning electron microscope）；標(biāo)準(zhǔn)電子組件（Standard Electronic Modules）

n. (Sem)（泰、柬）森（人名）；(Sem)（西、挪）塞姆（人名）

讀法：

英 [,es i: 'em]

用法：

SEM-EDS 能譜 ; 能譜分析 ; 掃描電鏡

SEM-EDX 分析 ; 能譜分析 ; 能譜儀 ; 譜分析

TSINGHUA SEM 理學(xué)院 ; 清華經(jīng)管學(xué)院 ; 清華大學(xué)經(jīng)濟(jì)管理學(xué)院

近義詞：

microscope

讀法：

英 [ˈmaɪkrəskəʊp]  美 [ˈmaɪkrəskoʊp]

解釋?zhuān)?/p>

n. 顯微鏡

用法：

Scanning electron microscope 掃描電子顯微鏡 ; 掃描電鏡 ; 掃描式電子顯微鏡 ; 電子顯微鏡

Digital Microscope 數(shù)碼顯微鏡 ; 該相機(jī)還支持?jǐn)?shù)碼顯微 ; 數(shù)字顯微鏡 ; 顯微數(shù)碼

petrographic microscope 巖相顯微鏡 ; 巖相顯微鐿 ; [光] 巖石顯微鏡