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sem測試一般測多大倍數(shù)(sem測試需要多少樣品)
大家好!今天讓創(chuàng)意嶺的小編來大家介紹下關(guān)于sem測試一般測多大倍數(shù)的問題,以下是小編對此問題的歸納整理,讓我們一起來看看吧。
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本文目錄:
一、掃描電鏡SEM/EDX測試的井深是多少?
````
應該是景深吧``
焦深計算公式
L= ±[(r/M)-d]/2α 其中:
L: 焦深
r: 顯像管最小分辨距離
M:放大倍數(shù)
d:入射電子束直徑
2α:物鏡孔徑角。
從上面的式子可以看出影響焦深的因素,其中隱含了工作距離w。物鏡孔徑角與工作距離和入射電子束直徑有關(guān)。由于r(顯像管的分辨率)和2α都是未知數(shù),實際上不能計算。焦深也只是個人的視覺感受,還是直觀的測量一下為好。
又查了資料``顯像管最小分辨距離為0.22mm-0.3mm, 孔徑角的典型數(shù)值為10-2—10-3rad.利用公式L= ±[(r/M)-d]/2α可以計算出在有效放大倍率下的焦深數(shù)據(jù)。設d=3納米,孔徑角2α=10-2 rad,r=0.3mm。計算焦深如下:
1000倍下為59.4微米。5000倍下為11.4微米。10000倍下為5.4微米。超過100000倍已經(jīng)超過了有效放大倍率。不能計算。
二、SEM和TEM區(qū)別
掃描電子顯微鏡 SEM(scanning electron microscope)
透射電鏡TEM (transmission electron microscope)
掃描電子顯微鏡
是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細胞生物學研究工具,主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應,其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像,這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的,即使用逐點成像的方法獲得放大像。掃描電子顯微鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質(zhì)表面時,被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子,以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時,也可產(chǎn)生電子-空穴對、晶格振動 (聲子)、電子振蕩 (等離子體)。原則上講,利用電子和物質(zhì)的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學性質(zhì)的信息,如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。掃描電子顯微鏡正是根據(jù)上述不同信息產(chǎn)生的機理,采用不同的信息檢測器,使選擇檢測得以實現(xiàn)。如對二次電子、背散射電子的采集,可得到有關(guān)物質(zhì)微觀形貌的信息;對x射線的采集,可得到物質(zhì)化學成分的信息。正因如此,根據(jù)不同需求,可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。
透射電鏡
是以電子束透過樣品經(jīng)過聚焦與放大后所產(chǎn)生的物像, 投射到熒光屏上或照相底片上進行觀察。透射電鏡的分辨率為0.1~0.2nm,放大倍數(shù)為幾萬~幾十萬倍。由于電子易散射或被物體吸收,故穿透力低,必須制備更薄的超薄切片(通常為50~100nm)。其制備過程與石蠟切片相似,但要求極嚴格。要在機體死亡后的數(shù)分鐘釣取材,組織塊要小(1立方毫米以內(nèi)),常用戊二醛和餓酸進行雙重固定樹脂包埋,用特制的超薄切片機(ultramicrotome)切成超薄切片,再經(jīng)醋酸鈾和檸檬酸鉛等進行電子染色。電子束投射到樣品時,可隨組織構(gòu)成成分的密度不同而發(fā)生相應的電子發(fā)射,如電子束投射到質(zhì)量大的結(jié)構(gòu)時,電子被散射的多,因此投射到熒光屏上的電子少而呈暗像,電子照片上則呈黑色。稱電子密度高(electron dense)。反之,則稱為電子密度低(electron lucent)。
三、檢測五金裂痕用多大倍數(shù)放大鏡
提問有些模糊。
檢測的目的是什么?
如果是要查看裂紋的源頭和裂紋形貌,我們帆泰檢測是用的SEM,10萬倍左右可以看的很清晰了,主要是用來做材料的失效分析;
如果你是QC驗貨來查看,一般10倍的目鏡就夠了。
四、掃描電鏡20um是放大多少倍
只知道標尺無法知道放大倍數(shù)。
拿尺子量一下標尺,用尺子上的刻度除以標尺的刻度就是放大倍數(shù)。
例如:尺子量出標尺長10mm,標尺上標稱10um,那么放大倍數(shù)就是10mm/10um就是1000倍。
掃描電鏡的放大率與普通光學顯微鏡不同,在SEM中,是通過控制掃描區(qū)域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以掃描面積得到。所以,SEM中,透鏡與放大率無關(guān)。
工作原理:
SEM的工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品,在樣品表面激發(fā)出次級電子,次級電子的多少與電子束入射角有關(guān),也就是說與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān),次級電子由探測體收集,并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?,再?jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹姸龋@示出與電子束同步的掃描圖像。
圖像為立體形象,反映了標本的表面結(jié)構(gòu)。為了使標本表面發(fā)射出次級電子,標本在固定、脫水后,要噴涂上一層重金屬微粒,重金屬在電子束的轟擊下發(fā)出次級電子信號。
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