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    eds測試主要測什么(eds測試原理)

    發(fā)布時間:2023-04-14 04:03:38     稿源: 創(chuàng)意嶺    閱讀: 131        

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    本文目錄:

    eds測試主要測什么(eds測試原理)

    一、XRD、IR、SEM、EDS及紫外可見吸收的測試原理及具體分析步驟(材料測試技術(shù)里面的)

    SEM:材料的表面形貌,形貌特征。配合EDX可以獲得材料的元素組成信息

    TEM:材料的表面形貌,結(jié)晶性。配合EDX可以獲得材料的元素組成

    FTIR:主要用于測試高分子有機材料,確定不同高分子鍵的存在,確定材料的結(jié)構(gòu)。如單鍵,雙鍵等等

    Raman:通過測定轉(zhuǎn)動能及和振動能及,用來測定材料的結(jié)構(gòu)。

    CV:CV曲線可以測試得到很多信息,比如所需電沉積電壓,電流,以及半導(dǎo)體行業(yè)可以得到直流偏壓

    EIS:EIS就是電化學(xué)交流阻抗譜測試可以得到電極電位,阻抗信息,從而模擬出系統(tǒng)內(nèi)在串聯(lián)電阻,并聯(lián)電阻和電容相關(guān)信息

    BET:主要是測試材料比表面積的,可以得到材料的比表面積信息。

    XRD:主要是測試材料的物性,晶型的。高級的XRD還可以測試材料不同晶型的組分。

    質(zhì)譜:主要用于鑒定材料的化學(xué)成分,包括液相質(zhì)譜,氣象質(zhì)譜

    二、EDS測試深度的問題

    是從表層到下面幾微米厚度內(nèi)的元素分布,不是十分精確,原子序數(shù)小于8的基本測不出來

    三、eds測試可以定點測試嗎

    eds測試可以定點測試。而能譜分析法(EDX)能迅速對微區(qū)的成分進行定性定量分析,幫助找出污染失效的源頭,從而提出行之有效的改善措施。在微區(qū)成分分析中,能譜分析法是主要的手段之一。

    四、XRD與EDS有什么區(qū)別?求大神

    SEM,EDS,XRD的區(qū)別,SEM是掃描電鏡,EDS是掃描電鏡上配搭的一個用于微區(qū)分析成分的配件——能譜儀,是用來對材料微區(qū)成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀,是用于物相分析的檢測設(shè)備。

    SEM用于觀察標本的表面結(jié)構(gòu),其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品,在樣品表面激發(fā)出次級電子,次級電子的多少與電子束入射角有關(guān),也就是說與樣 品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān),次級電子由探測體收集,并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?,再?jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹姸?,顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象,反映了標本的表面結(jié)構(gòu)。

    EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特征波長,特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E,能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點來進行成分分析的。

    XRD是利用衍射原理,精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析。

    說簡單點,SEM是用來看微觀形貌的,觀察表面的形態(tài)、斷口、微裂紋等等;EDS則是檢測元素及其分布,但是H元素不能檢測;XRD觀察的是組織結(jié)構(gòu),可以測各個相的比例、晶體結(jié)構(gòu)等。

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