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SEM能看到電鏡么（sem能看出什么）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-13 19:28:05 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 53

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本文目錄:

1、掃描電鏡（SEM）能測出晶型嗎
2、sem掃描電鏡圖片怎么分析微相分離
3、關(guān)于SEM掃描電鏡的幾個(gè)問題，求大神出現(xiàn)...
4、掃描電鏡SEM和透射電鏡TEM的區(qū)別

SEM能看到電鏡么（sem能看出什么）

一、掃描電鏡（SEM）能測出晶型嗎

理論上單純用SEM不能測出晶型，測晶型一般用XRD等儀器。掃描電鏡只能觀察形貌，分辨率可達(dá)亞微米級別。

不過對于特定的樣品，如果具有明確的晶型，借助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一種物質(zhì)只有區(qū)別明顯的兩種晶型，借助確定的形貌可以推斷是那種晶型）。另外，SEM通過加裝EBSD附件，通過觀察也有可能觀察晶型

二、sem掃描電鏡圖片怎么分析微相分離

sem掃描電鏡圖片分析微相分離的方法如下。

1、使用SEM掃描電鏡進(jìn)行掃描，獲取影像對所獲得影像進(jìn)行處理，根據(jù)微相特征和形態(tài)信息進(jìn)行分析。

2、利用圖像處理軟件對圖像進(jìn)行處理，提取具有代表性的信息。

3、通過圖像分析軟件進(jìn)行圖像分析，得出相應(yīng)的結(jié)果。根據(jù)分析結(jié)果，得出微相分離的結(jié)論。

三、關(guān)于SEM掃描電鏡的幾個(gè)問題，求大神出現(xiàn)...

如果是即將開始學(xué)習(xí)儀器操作的管理人員，建議先系統(tǒng)學(xué)習(xí)理論知識(shí)，再找專業(yè)的儀器工程師培訓(xùn)。如果是學(xué)生，要使用電鏡，從安全角度考慮，1、2、3幾項(xiàng)通常是值機(jī)人員完成的。我可以簡單的向你介紹一下：1、主要是電源，只要能正常開機(jī)，一般無問題；2、加高壓前一般要達(dá)到額定真空，否則氣體電離度大、損傷電子槍，但是電鏡軟件一般都已經(jīng)設(shè)置好，不到工作真空，根本加不上去高壓，所以只要能夠加高壓，也無其他特別的問題；做完電鏡關(guān)閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻后再放氣為宜，主要也是為了保護(hù)電子槍；3、樣品臺(tái)有它的額定移動(dòng)距離，包括平面方向和上下方向，平面方向移動(dòng)到極限時(shí)會(huì)有報(bào)警提示，看到提示往回移動(dòng)即可。高度方向也如此，但是要注意向上移動(dòng)時(shí)，要緩慢，要防止堅(jiān)硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴，損壞設(shè)備；4，電子束與試樣作用，可激發(fā)出多種信號(hào)，如二次電子信號(hào)（用于形貌觀察），背散射電子信號(hào)（用于區(qū)分微區(qū)成分)、俄歇電子信號(hào)(用于表面元素分析）、特征X射線（用于內(nèi)部元素分析）、陰極熒光（用于發(fā)光材料研究），這些信號(hào)已經(jīng)被有效的加以利用，這是一門獨(dú)立的學(xué)科，若需要詳細(xì)了解，你需要系統(tǒng)地學(xué)習(xí)一下。

四、掃描電鏡SEM和透射電鏡TEM的區(qū)別

sem的樣品可以是大的塊狀，較小的話就鑲樣，也可以做粉末樣。而tem的樣呢一般是直徑3mm的圓片，而且中間有通過離子減薄或者電解雙噴等弄出的小孔，也就是說有薄區(qū)，如果是粉末樣的話需要銅網(wǎng)或者支持膜支撐

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