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SEM表征（sem表征分析）

發(fā)布時間：2023-04-10 18:37:19 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 69

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本文目錄:

1、xrd sem表征差異
2、掃描電鏡SEM是指什么?
3、為什么做SEM表征時選用Si(111)做基底,而不是Si(100) ，求高手指教
4、sem對塑料可以eds嗎

SEM表征（sem表征分析）

一、xrd sem表征差異

具體概念:http://baike.baidu.com/view/116780.html?wtp=tt

檢測方法:用XRD檢測儀檢測

表征差異：跟標準圖譜對比，根據(jù)波峰的差異可以得到相關的信息。

二、掃描電鏡SEM是指什么?

掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用。

三、為什么做SEM表征時選用Si(111)做基底,而不是Si(100) ，求高手指教

沒啥關系，主要Si111容易獲得，價格便宜。

這里基底起到載物臺作用。

四、sem對塑料可以eds嗎

不可以。

由于微塑料尺寸較小，我們可以嘗試EDS觀測其形貌。樣品形貌均一，元素分布均勻，無明顯微塑料的信息，多次嘗試未果，所以未經(jīng)分離富集的土壤樣本直接進行微觀分析，難以發(fā)現(xiàn)微塑料的信息。eds穿透能力和樣品密度也有關的。

eds不是表面技術(shù)，和sem形貌信號源完全不同，當然沒可比性，eds縱向分析深度至少也是微米級。掃描電鏡的能譜分析就是分析的表面附近一兩個微米以內(nèi)范圍的成分。這是因為電子束的能量有限，不可能打到厚度較深的區(qū)域。sem電子束的穿透深度是微米級的，如果你樣品表面只有幾納米，建議用其他表征方法。sem穿透深度和你用的加速電壓有關系，電壓小穿透淺，你可以試試用5千伏特。

以上就是關于SEM表征相關問題的回答。希望能幫到你，如有更多相關問題，您也可以聯(lián)系我們的客服進行咨詢，客服也會為您講解更多精彩的知識和內(nèi)容。