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掃描電鏡用于觀察
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本文目錄:
一、掃描電鏡的成像原理與透射電鏡有何不同?
1、方式不同
掃描電鏡和電視掃描原理相同的成像方式,透射電鏡和光學(xué)顯微鏡或者照相機(jī)成像原理相同的成像方式。
2、實(shí)現(xiàn)不同
掃描電鏡利用掃描透射電子顯微鏡可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣。透射電鏡利用掃描透射模式時(shí)物鏡的強(qiáng)激勵(lì),可以實(shí)現(xiàn)微區(qū)衍射。擴(kuò)展資料:
透射電子顯微鏡是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像,影像將在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件)上顯示出來(lái)。
由于電子的德布羅意波長(zhǎng)非常短,透射電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高的很多,可以達(dá)到0.1~0.2nm,放大倍數(shù)為幾萬(wàn)~百萬(wàn)倍。
因此,使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu),甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結(jié)構(gòu),比光學(xué)顯微鏡所能夠觀察到的最小的結(jié)構(gòu)小數(shù)萬(wàn)倍。TEM在中和物理學(xué)和生物學(xué)相關(guān)的許多科學(xué)領(lǐng)域都是重要的分析方法,如癌癥研究、病毒學(xué)、材料科學(xué)、以及納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等等。
在放大倍數(shù)較低的時(shí)候,TEM成像的對(duì)比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成對(duì)電子的吸收不同而造成的。
而當(dāng)放大率倍數(shù)較高的時(shí)候,復(fù)雜的波動(dòng)作用會(huì)造成成像的亮度的不同,因此需要專(zhuān)業(yè)知識(shí)來(lái)對(duì)所得到的像進(jìn)行分析。通過(guò)使用TEM不同的模式,可以通過(guò)物質(zhì)的化學(xué)特性、晶體方向、電子結(jié)構(gòu)、樣品造成的電子相移以及通常的對(duì)電子吸收對(duì)樣品成像。
二、要觀察幾十納米的夾雜物,用掃描電鏡還是透射電鏡?
我以前也畢設(shè)也做過(guò)電鏡,是大腸桿菌的細(xì)胞表面的納米金屬顆粒,掃描電鏡,透射電鏡兩個(gè)都做了。最后寫(xiě)論文的時(shí)候就用了掃描電鏡的圖,你說(shuō)看主要做形貌,凡是需要看物質(zhì)表面形貌的,都可以用掃描電鏡,不過(guò)要要注意掃描電鏡目前分辨率,看看能否達(dá)到實(shí)驗(yàn)要求。
兩種測(cè)試手段的適用情況
凡是需要看物質(zhì)表面形貌的,都可以用掃描電鏡,不過(guò)最好的掃描電鏡目前分辨率在0.5~1nm左右。如果需要進(jìn)一步觀察表面形貌,需要使用掃描探針顯微鏡spm(afm,stm).
如果需要對(duì)物質(zhì)內(nèi)部晶體或者原子結(jié)構(gòu)進(jìn)行了解,需要使用tem.
例如鋼鐵材料的晶格缺陷,細(xì)胞內(nèi)部的組織變化。當(dāng)然很多時(shí)候?qū)τ趎m
材料的形態(tài)也使用tem觀察。
區(qū)別
掃描電鏡觀察的是樣品表面的形態(tài),而透射電鏡是觀察樣品結(jié)構(gòu)形態(tài)的。一般情況下,透射電鏡放大倍數(shù)更大,真空要求也更高。
掃描電鏡可以看比較“大”的樣品,最大可以達(dá)到直徑200mm以上,高度80mm左右,而透射電鏡的樣品只能放在直徑3mm左右的銅網(wǎng)上進(jìn)行觀察。
三、掃描電鏡用于觀察細(xì)胞和器官的什么微細(xì)結(jié)構(gòu)
觀察細(xì)胞和器官表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)
四、掃描電鏡能觀察碳粉分散度嗎
掃描電鏡能觀察碳粉分散度,觀察碳粉分散度是需要通過(guò)流動(dòng)性和物理作用來(lái)觀察,物理描電鏡只是利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品,觀察各種物理信息,并不能通過(guò)流動(dòng)性和物理作用來(lái)觀察,所以?huà)呙桦婄R能觀察碳粉分散度。
以上就是關(guān)于掃描電鏡用于觀察相關(guān)問(wèn)題的回答。希望能幫到你,如有更多相關(guān)問(wèn)題,您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢(xún),客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識(shí)和內(nèi)容。
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