SEM圖片上的標(biāo)尺

大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于SEM圖片上的標(biāo)尺的問(wèn)題，以下是小編對(duì)此問(wèn)題的歸納整理，讓我們一起來(lái)看看吧。

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本文目錄:

• 1、sem形貌標(biāo)尺要求

• 2、如何用pptwps畫(huà)sem的標(biāo)尺

• 3、掃描電鏡標(biāo)尺50μm是多少倍？

• 4、電鏡掃描D3.5×500 . 標(biāo)尺是200um，這是放大多少倍

一、sem形貌標(biāo)尺要求

在做掃描電鏡（SEM）測(cè)試時(shí)，大部分同學(xué)已經(jīng)了解了SEM測(cè)試樣品的相關(guān)要求，但是仍然有一部分同學(xué)不太清楚，今天鑠思百檢測(cè)小編整理了關(guān)于“SEM測(cè)試樣品要求”希望能幫到大家！

SEM測(cè)試樣品要求如下：

1.粉末、液體、薄膜、塊體均可。粉末10mg，塊體樣品直徑≤1cm，厚度＜1cm，；薄膜尺寸小于1*1*0.5cm；

2.混凝土，珊瑚沙，氣凝膠，水凝膠等需要抽真空時(shí)間非常長(zhǎng)的樣品尺寸請(qǐng)盡可能直徑≤5mm，厚度≤5mm

3. 需要脆斷的樣品，尺寸需要≥2*2cm，厚度＜0.5cm，較厚的樣品建議尺寸準(zhǔn)備大些；

要求樣品無(wú)毒、無(wú)放射性、干燥無(wú)污染、熱穩(wěn)定性好、耐電子束轟擊。

SEM測(cè)試制樣流程：

1、塊體：直接用導(dǎo)電膠粘在樣品臺(tái)上測(cè)試，若需拍塊體/薄膜截面，需明確截面制備方法，一般可以提供剪刀裁剪和液氮脆斷兩種方式；

2、液體：用移液槍取樣品超聲后的懸濁液，滴一滴于硅片或錫紙上，自然風(fēng)干/紅外燈烘干，烘干后將硅片或錫紙用導(dǎo)電膠粘在樣品臺(tái)上測(cè)試；

3、粉末：（1）直接用導(dǎo)電膠粘在樣品臺(tái)上測(cè)試；（2）乙醇分散制樣：取少量樣品于離心管中，加入 一定量無(wú)水乙醇（或水），室溫超聲 5-10min，隨后采用 2 中液體的制樣方式制樣測(cè)試。

SEM測(cè)試樣品要求注意事項(xiàng)：

1、樣品含水，濕潤(rùn)是不能做SEM的；

2、易分解樣品需明確分解條件（如溫度等），若樣品極易分解可能不能安排測(cè)試，因?yàn)榉纸夂螽a(chǎn)生物質(zhì)可能對(duì)測(cè)試儀器造成影響；

3、水凝膠等易吸潮樣品寄樣前請(qǐng)先確認(rèn)樣品暴露 4-5h 內(nèi)是否會(huì)出現(xiàn)明顯的吸潮現(xiàn)象，測(cè)試過(guò)程中樣品吸潮會(huì)影響拍攝的同時(shí)也會(huì)對(duì)儀器造成損傷；

4、導(dǎo)電性不好（如半導(dǎo)體金屬氧化物、生物樣品及塑料、陶瓷等）或強(qiáng)磁樣品建議選擇噴金，不噴金可能會(huì)影響拍攝效果。

鑠思百檢測(cè)可做的SEM測(cè)試項(xiàng)目有：

表面形貌觀察、EDS能譜點(diǎn)掃、EDS能譜線掃、EDS能譜面掃（mapping）；可鍍金，非磁、弱磁、強(qiáng)磁樣品，生物樣品均可拍攝。

網(wǎng)址：

科研設(shè)備

二、如何用pptwps畫(huà)sem的標(biāo)尺

打開(kāi)WPS演示文稿，打開(kāi)之后在空白區(qū)域右鍵，右鍵后，選擇標(biāo)尺這樣標(biāo)尺就顯示了

在文字編輯的時(shí)候，左右拖動(dòng)即可拉出輔助線

三、掃描電鏡標(biāo)尺50μm是多少倍？

只知道標(biāo)尺無(wú)法知道放大倍數(shù)。

拿尺子量一下標(biāo)尺，用尺子上的刻度除以標(biāo)尺的刻度就是放大倍數(shù)。

例如尺子量出標(biāo)尺長(zhǎng)10mm，標(biāo)尺上標(biāo)稱(chēng)10um，那么放大倍數(shù)就是10mm/10um就是1000倍。

掃描電鏡的放大率與普通光學(xué)顯微鏡不同，在SEM中，是通過(guò)控制掃描區(qū)域的大小來(lái)控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以?huà)呙杳娣e得到。

所以，SEM中，透鏡與放大率無(wú)關(guān)。

擴(kuò)展資料：

掃描電子顯微鏡的制造依據(jù)是電子與物質(zhì)的相互作用。

掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細(xì)的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。通過(guò)對(duì)這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測(cè)試試樣表面形貌的觀察。

當(dāng)一束極細(xì)的高能入射電子轟擊掃描樣品表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見(jiàn)、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時(shí)可產(chǎn)生電子-空穴對(duì)、晶格振動(dòng)（聲子)、電子振蕩（等離子體）。

參考資料：百度百科-掃描電子顯微鏡

四、電鏡掃描D3.5×500 . 標(biāo)尺是200um，這是放大多少倍

用圖片上標(biāo)尺的實(shí)際尺寸除以50μm 就等于放大倍數(shù)。圖片如果是數(shù)字圖像，標(biāo)尺長(zhǎng)度會(huì)隨著數(shù)字圖片的放大和縮小而改變，那么實(shí)際放大倍數(shù)就應(yīng)該隨時(shí)修正。另外數(shù)字放大縮小一般不改變所拍攝物體的更多表面細(xì)節(jié) 。

掃描電鏡的放大率與普通光學(xué)顯微鏡不同，在SEM中，是通過(guò)控制掃描區(qū)域的大小來(lái)控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。放大率由屏幕/照片面積除以?huà)呙杳娣e得到。

擴(kuò)展資料：

其利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品,

通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用, 來(lái)激發(fā)各種物理信息,

對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。

新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm;放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬(wàn)倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大,

視野大, 成像立體效果好。

此外, 掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合, 可以做到觀察微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。

以上就是關(guān)于SEM圖片上的標(biāo)尺相關(guān)問(wèn)題的回答。希望能幫到你，如有更多相關(guān)問(wèn)題，您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢(xún)，客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識(shí)和內(nèi)容。

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