SEM掃描電鏡品牌

SEM，全稱為掃描電子顯微鏡，又稱掃描電鏡，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全稱為透射電子顯微鏡，又稱透射電鏡，英文名Transmission Electron Microscope.

區(qū)別：

1. SEM的樣品中被激發(fā)出來的二次電子和背散射電子被收集而成像. TEM可以表征樣品的質(zhì)厚襯度，也可以表征樣品的內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu)。TEM的分辨率比SEM要高一些。

2. SEM樣品要求不算嚴(yán)苛，而TEM樣品觀察的部分必須減薄到100nm厚度以下，一般做成直徑3mm的片，然后去做離子減薄，或雙噴（或者有厚度為20~40μm或者更少的薄區(qū)要求）。

3. TEM可以標(biāo)定晶格常數(shù)，從而確定物相結(jié)構(gòu)；SEM主要可以標(biāo)定某一處的元素含量，但無法準(zhǔn)確測定結(jié)構(gòu)。

三、哪里銷售便宜的掃描電子顯微鏡（SEM）？

天美

四、第一臺掃描電鏡發(fā)明者

1926 Busch 發(fā)現(xiàn)電子可像光線經(jīng)過玻璃透鏡偏折一般， 由電磁場的改變而偏折。1931德國物理學(xué)家Knoll 及Ruska 首先發(fā)展出穿透式電子顯微鏡原型機(jī)。

發(fā)展歷史如下：

1873 Abbe 和Helmholfz 分別提出解像力與照射光的波長成反比。奠定了顯微鏡的理論基礎(chǔ)

1897 J.J. Thmson 發(fā)現(xiàn)電子

1924 Louis de Broglie (1929 年諾貝爾物理獎得主） 提出電子本身具有波動的物理特性， 進(jìn)一步提供電子顯微鏡的理論基礎(chǔ)

1926 Busch 發(fā)現(xiàn)電子可像光線經(jīng)過玻璃透鏡偏折一般， 由電磁場的改變而偏折

1931德國物理學(xué)家Knoll 及Ruska 首先發(fā)展出穿透式電子顯微鏡原型機(jī)

1937 首部商業(yè)原型機(jī)制造成功（Metropolitan Vickers 牌）

1938 第一部掃描電子顯微鏡由Von Ardenne 發(fā)展成功

1938～39 穿透式電子顯微鏡正式上市（西門子公司，50KV~100KV，解像力20~30Å）

1940～41 RCA 公司推出美國第一部穿透式電子顯微鏡（解像力50 nm）

1941～63 解像力提升至2~3 Å （穿透式） 及100Å （掃描式）

1960 Everhart and Thornley 發(fā)明二次電子偵測器。

1965 第一部商用SEM出現(xiàn)（Cambridge)

1966 JEOL 發(fā)表第一部商用SEM(JSM-1)

1958年中國科學(xué)院組織研制

1959年第一臺100KV電子顯微鏡 1975年第一臺掃描電子顯微鏡DX3 在中國科學(xué)院科學(xué)儀器廠（現(xiàn)北京中科科儀技術(shù)發(fā)展有限責(zé)任公司）研發(fā)成功

1980年中科科儀引進(jìn)美國技術(shù)，開發(fā)KYKY1000掃描電鏡

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